[发明专利]基于半角宽度的布里渊散射频移的测量方法

摘要

本发明公开了基于条纹半角宽度的布里渊散射频移的测量方法，布里渊信号光经过法布里——帕罗标准具汇聚进入ICCD成像仪，得到干涉环；取过圆心的截面进行分析，截出条纹半角进行分析，计算出布里渊散射频移。本发明不需要取圆环边缘值，能够有效避免由于圆环边缘不清晰而造成的误差。

主权项

基于条纹半角宽度的布里渊散射频移的测量方法，其特征在于，布里渊信号光经过法布里——帕罗标准具汇聚进入ICCD成像仪，得到干涉环；取过圆心的截面进行分析，截出条纹半角进行分析，得到布里渊散射频移计算公式为：f1-f2=cλ1-cλ2=c(λ2-λ1λ1λ2)=c(arctanr2L2arctanr1L1λ1-λ1arctanr2L2arctanr1L1λ12)=c(arctanr2L2-arctanr1L1λ1arctanr2L2);]]>其测量步骤如下：1)确定经过干涉环圆心的线；2)在干涉环上取一条初始线段，选取落在初始线段布里渊环上两侧的主极大的点，标记为C1和C2，得到C1C2线段；并在初始线段上标记出同级的瑞利环上主极大的D1和D2，得到D1D2线段；3)利用ICCD成像仪读取像素的长度，并分别求出C1C2线段和D1D2线段的中点；4)作平行于线段D1D2的过渡线段，并用步骤2)和步骤3)的方法进行标记，求出过渡线段的中点，并将过渡线段的中点连起来，即为经过圆心的直线，设为l；5)选取C2点所在的布里渊环，利用ICCD成像仪测定2r1和2r2的长度；6)确定经过圆心的直线l以后，在靠近中心亮点的第j级瑞利干涉环上，选取落在直线l上主极大强度一半的两个点E1和E2，E1E2线段即为2r1；7)按照步骤6)选取落在直线l上主极大强度一半的两个点F1和F2，在同级布里渊干涉环上F1F2即为2r2；8)测出凸透镜到条纹主极大的距离L1和L2；9)计算出布里渊散射频移f1‑f2。