[发明专利]一种TSV多层芯片键合方法在审
申请号: | 201510114945.0 | 申请日: | 2015-03-16 |
公开(公告)号: | CN104716060A | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 吴道伟;李克中;张波 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所 |
主分类号: | H01L21/603 | 分类号: | H01L21/603;H01L21/683 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李宏德 |
地址: | 710068 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明一种TSV多层芯片键合方法包括,一,将具备TSV及正面图形的第一晶圆的正面与支撑片进行临时键合,形成第一晶圆键合体;二,然后对其进行背面减薄,露出硅通孔,形成背面键合凸点;三,再对该键合体划片,正面保留支撑片,形成第一芯片;四,对具备正面键合凸点的第二晶圆进行划片形成第二芯片;五,将第一芯片与第二芯片进行凸点键合,去除支撑片形成二层键合体;六,将重复1-3形成的芯片依次按步骤5进行凸点键合,实现多层芯片的依次键合叠加,得到TSV多层芯片。或将重复1-3形成的多个芯片,两两分别进行凸点键合后形成两侧均有支撑片的双层键合体;将芯片和/或去除了一侧支撑片的双层键合体,键合后得到TSV多层芯片。 | ||
搜索关键词: | 一种 tsv 多层 芯片 方法 | ||
【主权项】:
一种TSV多层芯片键合方法,其特征在于,包括如下步骤,步骤1,通过临时键合胶将具备TSV及正面图形的第一晶圆的正面与支撑片进行临时键合,形成第一晶圆键合体;步骤2,对第一晶圆键合体进行背面减薄,露出硅通孔,并完成背面工艺,形成背面键合凸点;步骤3,对形成有背面键合凸点的第一晶圆键合体划片,正面保留支撑片,形成第一芯片;步骤4,具备正面键合凸点的第二晶圆进行划片形成第二芯片;步骤5,将第一芯片背面与第二芯片正面进行凸点键合,去除第一芯片上的支撑片,形成二层键合体;步骤6,将重复步骤1‑3形成的芯片依次按步骤5进行凸点键合,实现多层芯片的依次键合叠加,去除支撑片后,得到TSV多层芯片。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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