[发明专利]一种TSV多层芯片键合方法在审

专利信息
申请号: 201510114945.0 申请日: 2015-03-16
公开(公告)号: CN104716060A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 吴道伟;李克中;张波 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
主分类号: H01L21/603 分类号: H01L21/603;H01L21/683
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李宏德
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明一种TSV多层芯片键合方法包括,一,将具备TSV及正面图形的第一晶圆的正面与支撑片进行临时键合,形成第一晶圆键合体;二,然后对其进行背面减薄,露出硅通孔,形成背面键合凸点;三,再对该键合体划片,正面保留支撑片,形成第一芯片;四,对具备正面键合凸点的第二晶圆进行划片形成第二芯片;五,将第一芯片与第二芯片进行凸点键合,去除支撑片形成二层键合体;六,将重复1-3形成的芯片依次按步骤5进行凸点键合,实现多层芯片的依次键合叠加,得到TSV多层芯片。或将重复1-3形成的多个芯片,两两分别进行凸点键合后形成两侧均有支撑片的双层键合体;将芯片和/或去除了一侧支撑片的双层键合体,键合后得到TSV多层芯片。
搜索关键词: 一种 tsv 多层 芯片 方法
【主权项】:
一种TSV多层芯片键合方法,其特征在于,包括如下步骤,步骤1,通过临时键合胶将具备TSV及正面图形的第一晶圆的正面与支撑片进行临时键合,形成第一晶圆键合体;步骤2,对第一晶圆键合体进行背面减薄,露出硅通孔,并完成背面工艺,形成背面键合凸点;步骤3,对形成有背面键合凸点的第一晶圆键合体划片,正面保留支撑片,形成第一芯片;步骤4,具备正面键合凸点的第二晶圆进行划片形成第二芯片;步骤5,将第一芯片背面与第二芯片正面进行凸点键合,去除第一芯片上的支撑片,形成二层键合体;步骤6,将重复步骤1‑3形成的芯片依次按步骤5进行凸点键合,实现多层芯片的依次键合叠加,去除支撑片后,得到TSV多层芯片。
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