[发明专利]一种在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法在审
申请号: | 201510126428.5 | 申请日: | 2015-03-20 |
公开(公告)号: | CN104766780A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 徐福兴;陈银娟;党乾坤;汪源源;方向;丁传凡 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/02;G01N27/62 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于质谱分析测试技术领域,具体为在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法。该方法在离子进入离子阱的过程中,利用一偶极电压对离子进行共振逐出,实现离子的质量分析工作过程。具体为通过扫描数字射频工作电压的频率和快速调节离子阱质量分析器前后端盖电极上的工作电压,在不需要进行常规离子阱质谱作质量分析时所需要的四个时序阶段,只进行其中的一个离子共振逐出阶段,即可快速完成对离子的质量分析,缩短整个离子阱质谱仪的分析时间,提高检测效率。本发明不需要额外的硬件改变,仅通过软件的控制即可实现高效的快速分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 离子 质量 分析器 进行 高效 快速 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法,其特征在于:仅用一个离子共振逐出阶段,实现整个离子阱质量分析器工作过程,具体步骤如下:在离子共振逐出阶段,施加对称波形的射频工作电压信号,离子在离子阱射频工作电压产生的电场作用下,通过与中性气体分子的碰撞冷却被束缚在离子阱中;在数字方波驱动离子阱工作模式下,扫描数字射频工作电压的频率和快速调节离子阱质量分析器前后端盖电极上的工作电压,在扫描过程中施加偶极激发电压信号,离子在偶极激发电压的作用下,发生共振激发,最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出,被安置在离子阱外的离子探测器检测获得离子的质谱信号。
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