[发明专利]光伏组件电性能测试方法有效
申请号: | 201510128526.2 | 申请日: | 2015-03-23 |
公开(公告)号: | CN104701208B | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 蒋孝山;范宝朋;冯文生 | 申请(专利权)人: | 常州天合亚邦光能有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所32225 | 代理人: | 孙彬,芮雪萍 |
地址: | 213161 江苏省常州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种光伏组件电性能测试方法,该方法设置在光伏组件装边框前,该方法的步骤如下a)驱动光伏组件至测试位;b)在测试位上调整光伏组件的水平度,使光伏组件的受光面处于水平状态,并确保该光伏组件的受光面与标准片的受光面在同一高度上;c)从光伏组件的受光面侧通过一太阳模拟器对光伏组件的受光面照射模拟光线,并避免光伏组件的受光面侧被遮挡,然后采用引出线测试夹具从光伏组件的背光面侧分别夹持光伏组件的正极引出线和负极引出线,从而对光伏组件进行电性能测试。本发明不仅能够实现光伏组件电性能的无损和快速测试,避免光伏组件隐裂破片的现象,而且能够提高光伏组件电性能测试的准确性。 | ||
搜索关键词: | 组件 性能 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种光伏组件电性能测试方法,该方法设置在光伏组件(5)装边框前,其特征在于该方法的步骤如下:a)驱动光伏组件(5)至测试位;b)在测试位上调整光伏组件(5)的水平度,使光伏组件(5)的受光面处于水平状态,并确保该光伏组件(5)的受光面与标准片的受光面在同一高度上;c)从光伏组件(5)的受光面侧通过一太阳模拟器(1)对光伏组件(5)的受光面照射模拟光线,并避免光伏组件(5)的受光面侧被遮挡,然后采用引出线测试夹具(4)从光伏组件(5)的背光面侧分别夹持光伏组件(5)的正极引出线和负极引出线,从而对光伏组件(5)进行电性能测试;在所述步骤c)中,所述的引出线测试夹具(4)具有支撑架(41),并且支撑架(41)上设置有两个引线夹持装置,其中一个引线夹持装置用于夹持光伏组件(5)的正极引出线,另一个引线夹持装置用于夹持光伏组件(5)的负极引出线,所述引线夹持装置包括:头架(42);两个夹紧组件(43),两个夹紧组件(43)均铰接在头架(42)上;活动缸(44),所述活动缸(44)安装在支撑架(41)上,并且活动缸(44)的活动杆端与两个夹紧组件(43)的后端相铰接以便活动缸(44)动作时带动两个夹紧组件(43)的前端作相向运动;两个导电测试夹块(45),导电测试夹块(45)分别固定连接在相对应的夹紧组件(43)的内侧,并且两个导电测试夹块(45)相配合以便两者之间夹持引出线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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