[发明专利]一次编程的记忆胞及其阵列结构与操作方法有效
申请号: | 201510133013.0 | 申请日: | 2015-03-25 |
公开(公告)号: | CN105280644B | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 吴孟益;陈信铭 | 申请(专利权)人: | 力旺电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;G11C17/04 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种一次编程的记忆胞及其阵列结构与操作方法。该一次编程的记忆胞,包括:晶体管、第一变容器与第二变容器。晶体管具有栅极、源极与漏极。栅极连接至字线。源极连接至位线。第一变容器的第一端连接至晶体管的漏极,第二端连接至第一编程线。第二变容器的第一端连接至晶体管的漏极,第二端连接至第二编程线。 | ||
搜索关键词: | 一次 编程 记忆 及其 阵列 结构 操作方法 | ||
【主权项】:
1.一种阵列结构的操作方法,该阵列结构包括:第一一次编程的记忆胞,包括:第一晶体管,具有漏极,源极连接至第一位线,以及栅极连接至第一字线;第一变容器,具有第一端连接至该第一晶体管的该漏极,第二端连接至第一编程线;以及第二变容器,具有第一端连接至该第一晶体管的该漏极,第二端连接至第二编程线;以及第二一次编程的记忆胞,包括:第二晶体管,具有漏极,源极连接至该第一位线,以及栅极连接至第二字线;第三变容器,具有第一端连接至该第二晶体管的该漏极,第二端连接至第三编程线;以及第四变容器,具有第一端连接至该第二晶体管的该漏极,第二端连接至第四编程线,该阵列结构的操作方法包括下列步骤:进入第一次编程周期,将该第一一次编程的记忆胞中的该第一变容器改为第一电阻器;进入确认周期,读取该第一一次编程的记忆胞所产生的第一读取电流,并判断该第一一次编程的记忆胞是否为失败记忆胞;以及在确认该第一一次编程的记忆胞为该失败记忆胞时,进入第二次编程周期,将该第一一次编程的记忆胞中的该第二变容器改为第二电阻器。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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