[发明专利]试验装置以及试验方法有效

专利信息
申请号: 201510142715.5 申请日: 2015-03-27
公开(公告)号: CN104950236B 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 岩桥洋平 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京金信知识产权代理有限公司11225 代理人: 黄威,苏萌萌
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种试验装置以及试验方法,其公开了一种能够向半导体元件提供充足的负载,并且能够在半导体元件损坏了的情况下适当地抑制半导体元件的损坏的进展的技术。试验装置(2)具有电源(10)、电感器(20)、二极管(30)、试验对象元件(40)、截断用元件(50)。截断用元件(50)被设置于电源(10)与试验对象元件(40)之间,并能够截断朝向试验对象元件(40)的电流的流入。截断用元件(50)在被施加于试验对象元件(40)上的电压因试验对象元件(40)的关闭而上升至浪涌电压之后且稳定了的时刻之前,开始截断朝向试验对象元件(40)的电流的流入,并在该时刻之后结束截断。
搜索关键词: 试验装置 以及 试验 方法
【主权项】:
一种试验装置,其对半导体元件进行试验,并具有:电源,其产生向所述半导体元件施加的电源电压;电感器,其被设置于所述电源与所述半导体元件之间;二极管,其为与所述电感器并联连接的二极管,且阳极与所述电感器的负极侧连接,阴极与所述电感器的正极侧连接;电流截断机构,其被设置于所述电源与所述半导体元件之间,并能够截断向所述半导体元件的电流的流入,所述试验装置的特征在于,所述电流截断机构在被施加于所述半导体元件上的电压因所述半导体元件的关闭而上升至浪涌电压之后且稳定了的时刻之前,开始截断向所述半导体元件的电流的流入,并在所述时刻以后结束所述截断。
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