[发明专利]薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板和显示装置有效

专利信息
申请号: 201510158315.3 申请日: 2015-04-03
公开(公告)号: CN104716200B 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 田宏伟;牛亚男;王祖强;孙亮 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/77;H01L21/336
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 彭瑞欣,陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于显示技术领域,具体涉及一种薄膜晶体管的制备方法、薄膜晶体管、阵列基板和显示装置。该薄膜晶体管的制备方法,包括形成栅极、源极和漏极以及有源层的步骤,形成所述有源层包括分步形成第一多晶硅层以及位于所述第一多晶硅层上方的第二多晶硅层,以及在所述第二多晶硅层中和所述第一多晶硅层的上表层加入掺杂离子。该薄膜晶体管的制备方法能减少薄膜晶体管中的界面缺陷态及不稳定因素,从而提升低温多晶硅薄膜晶体管的稳定性,获得更稳定的阵列基板和显示装置性能。
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制备 方法 阵列 显示装置
【主权项】:
一种薄膜晶体管的制备方法,包括形成栅极、源极和漏极以及有源层的步骤,其特征在于,形成所述有源层包括:分步形成第一多晶硅层以及位于所述第一多晶硅层上方的第二多晶硅层,以及在所述第二多晶硅层中和所述第一多晶硅层的上表层加入掺杂离子;其中,形成所述有源层的步骤具体包括:形成第一非晶硅层;通过第一次激光退火工艺将所述第一非晶硅层转变为所述第一多晶硅层;在所述第一多晶硅层的上表面形成第二非晶硅层,并在形成所述第二非晶硅层的过程中加入掺杂离子;对所述第二非晶硅层进行第二次激光退火工艺,使所述第一多晶硅层的上表层熔融,所述第二非晶硅层在所述第一多晶硅层的表面生长,形成第二多晶硅层并使得所述第一多晶硅层的上表层加入掺杂离子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510158315.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top