[发明专利]用于光源、探测器与分析器的附接与对准设备，以及模块分析系统

摘要

本发明涉及用于光源、探测器与分析器的附接与对准装置，以及模块分析系统，并且提供了一种用于结合光学分析系统的两个或多个单独部件的设备，以使用跨越诸如栈、燃烧室、导管或管道的测量空间的光学测量的共同入口与出口穿孔，从而以从相应的光源到探测器的光学路径基本上相同的方式，使得在诸如温度与压力分布和背景物质浓度的等效周围环境条件的情况下能够在单个光学路径或紧密对准的光学路径上方进行多个光学测量。此设备与形成模块系统的一组相互可连接的设备是有用的，例如，在吸收光谱中，诸如用于测量在测量体积中的流体的化学组分的数量分数。

主权项

一种附接与对准设备，其用于安装与测量体积光学连通的光学分析系统的多个部件，以使得能够沿着通过所述测量体积的对准的光学路径进行多个光学测量，其中所述设备包括:第一附接点，其用于将所述设备附接在使得能够与测量体积光学连通的位置处；安装件，其用于安装光学对准设备；多个额外附接点，它们相对于所述安装件处于不同角位置处，所述多个额外附接点的每个都使得能够附接下述单元：光源单元；光探测单元；或者包括至少一个光源与至少一个探测器的组合单元；以在所述安装件与每个所述额外附接点之间提供不同的光学路径；以及至少一个光学对准设备，其安装在所述安装件上，所述光学对准设备构造为通过沿着所述安装件与每个所述额外附接点之间的所述不同光学路径前行的光的测量体积来提供光学校准。