[发明专利]绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置

摘要

本发明公开了一种绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置，包括隔振平台、支撑结构、第一激光干涉仪、第一参考棱镜、落体真空腔、对顶双棱镜形成的落体结构、第二激光干涉仪、第二参考棱镜；其中第一参考棱镜和第二参考棱镜刚性连接；当对顶双棱镜形成的落体在落体真空腔中自由下落时，会在第一激光干涉仪和第二激光干涉仪中分别形成干涉信号，通过探测器分别探测两套激光干涉仪的干涉信号，由于光速有限效应在两套干涉仪中的作用效果是相反的，而重力加速度、振动噪声和其他噪声等对两套激光干涉仪的作用效果是相同的，是共模信号，因此通过数据处理实现两套激光干涉仪信号的差分测量，就可以直接测量绝对重力仪中光速有限效应的大小。

主权项

一种绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置，其特征在于，包括：隔振平台(1)、位于隔振平台(1)上方的支撑结构(2)、位于所述支撑结构(2)上方的第一激光干涉仪(3)、位于所述第一激光干涉仪(3)的下方的第一参考棱镜(4)、位于所述第一激光干涉仪(3)上方的落体真空腔(5)、位于所述落体真空腔(5)内的落体结构(6)、位于所述落体真空腔(5)上方的第二激光干涉仪(7)、位于所述第二激光干涉仪(7)上方的第二参考棱镜(8)；所述落体结构(6)由两个落体棱镜固连组成，且所述落体结构(6)具有上、下反射面；所述第一参考棱镜(4)、所述第一激光干涉仪(3)和所述落体结构(6)的下反射面构成第一激光干涉光路；所述第二参考棱镜(8)、第二激光干涉仪(7)和所述落体结构(6)的上反射面构成第二激光干涉光路；当所述落体结构在所述落体真空腔中自由下落时，分别在所述第一激光干涉仪和第二激光干涉仪中形成干涉信号，通过第一探测器、第二探测器分别探测的干涉信号经过数据处理后实现差分测量，由于光速有限效应在两套干涉仪中的作用效果是相反的，而重力加速度、振动噪声和其他噪声对两套干涉仪的作用效果是相同的，是共模信号，因此通过这种差分测量就可以直接测量绝对重力仪中光速有限效应的大小。