[发明专利]一种绝缘体上硅SOI的ESD保护电路有效
申请号: | 201510165950.4 | 申请日: | 2015-04-09 |
公开(公告)号: | CN104835816B | 公开(公告)日: | 2017-09-08 |
发明(设计)人: | 蔡小五;严北平;霍晓 | 申请(专利权)人: | 香港应用科技研究院有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码: | 香港;81 |
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摘要: | 一种静电放电(ESD)保护电路,其使用有氧化埋层但没有寄生衬底二极管的绝缘体上硅(SOI)晶体管,用于ESD保护。一个滤波电压由一个电阻和一个电容产生。当有一个VDD到VSS的ESD正脉冲时,滤波电压通过n‑沟道传输晶体管并被反转,驱动大SOI晶体管的栅极,泄放ESD电流。还有第二条路径是用于VSS到VDD的ESD正脉冲。当正ESD脉冲施加到VSS上时,滤波电压通过p‑沟道传输晶体管到达所述栅极。大SOI晶体管可连接在VDD和VSS之间,用于电源钳位,n‑沟道和p‑沟道传输晶体管的栅极连接到VDD。在VDD和VSS之间可以添加一个小的二极管,产生一个小的触发电流以触发I/O焊盘附近的栅极接地ESD保护晶体管,用于基于焊盘全芯片的ESD保护。 | ||
搜索关键词: | 一种 绝缘体 soi esd 保护 电路 | ||
【主权项】:
一种绝缘体上硅SOI静电放电ESD保护结构,包括:一个泄放SOI晶体管,其第一源极/漏极连接到第一端子,其第二源极/漏极连接到第二端子,其栅极连接到一个栅节点,所述栅极控制所述第一和所述第二源极/漏极之间的一个沟道区中的一个沟道;一个氧化埋层,其在所述第一和所述第二源极/漏极和所述沟道区之下,所述氧化埋层阻止电流从所述第一和所述第二源极/漏极以及所述沟道区流向衬底,其中不存在用于所述泄放SOI晶体管下的ESD保护的寄生衬底二极管;一个电阻器,其连接在所述第一端子和一个滤波节点之间;一个电容器,其连接在所述第二端子和所述滤波节点之间;一个n‑沟道传输晶体管,其栅极连接到所述第一端子,其漏极连接到所述滤波节点,其源极连接到一个反相节点;一个反相器,其将所述反相节点反转,以驱动所述泄放SOI晶体管的所述栅节点;一个p‑沟道传输晶体管,其栅极连接到所述第一端子,其源极连接到所述滤波节点,其漏极连接到所述泄放SOI晶体管的所述栅节点;由此,所述泄放SOI晶体管将ESD脉冲泄放,不需要一个寄生衬底二极管的帮助。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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