[发明专利]一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置有效
| 申请号： | 201510169365.1 | 申请日： | 2015-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN104749514B | 公开（公告）日： | 2017-12-19 |
| 发明（设计）人： | 刘静;曹俊锋;柏光东;王凤驰;李正东 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)34124 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开一种低功耗差分传输芯片的测试装置，其包括对插件侧接口、对测试系统侧接口、解差分芯片组和时钟电路；所述对插件侧接口和对测试系统侧接口通过并行走线直接一对一连接并双向通讯；所述解差分芯片组分别与对插件侧接口通过差分走线一对一连接并单向通讯、与对测试系统侧接口通过并行走线一对一连接并单向通讯；所述时钟电路与解差分芯片组连接。本发明的优点在于所述装置具有结构简单、布线紧凑，且采用成熟的芯片与电子元器件，具有极低的采购成本和良好的移植性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功耗 传输 芯片 通化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置，其特征在于：其包括对插件侧接口(1)、对测试系统侧接口(2)、解差分芯片组(3)和时钟电路(4)；所述对插件侧接口(1)和对测试系统侧接口(2)通过并行走线直接一对一连接并双向通讯；所述解差分芯片组(3)分别与对插件侧接口(1)通过差分走线一对一连接并单向通讯、与对测试系统侧接口(2)通过并行走线一对一连接并单向通讯；所述时钟电路(4)与解差分芯片组(3)连接；所述解差分芯片组(3)主要由9组解差分芯片及其匹配子电路(31)组成，依次为第1组匹配子电路、第2组匹配子电路、第3组匹配子电路、第4组匹配子电路、第5组匹配子电路、第6组匹配子电路、第7组匹配子电路、第8组匹配子电路、第9组匹配子电路；其中，每一组解差分芯片及其匹配子电路(31)均与时钟电路(4)相连接。
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