[发明专利]内线转移CCD结构及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201510174103.4 申请日: 2015-04-14
公开(公告)号: CN104766873A 公开(公告)日: 2015-07-08
发明(设计)人: 向鹏飞;姜华男;高建威;龙飞 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L27/148 分类号: H01L27/148;H01L21/02
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 侯懋琪
地址: 400060 重庆*** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 一种内线转移CCD结构,包括硅衬底,所述硅衬底上邻近设置有转移区和光敏区,其创新在于:所述转移区范围内的硅衬底表面上设置有多晶硅转移栅,多晶硅转移栅表面覆盖有遮光层,遮光层表面淀积有回流层,所述回流层将光敏区覆盖;所述遮光层采用难熔金属或难熔金属合金制作。本发明的有益技术效果是:提出了一种新的内线转移CCD结构及制作方法,通过采用高熔点金属材料来替换铝,使遮光层可以直接形成于多晶硅转移栅上,降低器件漏光率。
搜索关键词: 内线 转移 ccd 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种内线转移CCD结构,包括硅衬底(1),所述硅衬底(1)上邻近设置有转移区(A)和光敏区(B),其特征在于:所述转移区(A)范围内的硅衬底(1)表面上设置有多晶硅转移栅(2),多晶硅转移栅(2)表面覆盖有遮光层(3),遮光层(3)表面淀积有回流层(4),所述回流层(4)将光敏区(B)覆盖;所述遮光层(3)采用难熔金属或难熔金属合金制作。
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