[发明专利]内线转移CCD结构及其制作方法在审
申请号: | 201510174103.4 | 申请日: | 2015-04-14 |
公开(公告)号: | CN104766873A | 公开(公告)日: | 2015-07-08 |
发明(设计)人: | 向鹏飞;姜华男;高建威;龙飞 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 |
主分类号: | H01L27/148 | 分类号: | H01L27/148;H01L21/02 |
代理公司: | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人: | 侯懋琪 |
地址: | 400060 重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种内线转移CCD结构,包括硅衬底,所述硅衬底上邻近设置有转移区和光敏区,其创新在于:所述转移区范围内的硅衬底表面上设置有多晶硅转移栅,多晶硅转移栅表面覆盖有遮光层,遮光层表面淀积有回流层,所述回流层将光敏区覆盖;所述遮光层采用难熔金属或难熔金属合金制作。本发明的有益技术效果是:提出了一种新的内线转移CCD结构及制作方法,通过采用高熔点金属材料来替换铝,使遮光层可以直接形成于多晶硅转移栅上,降低器件漏光率。 | ||
搜索关键词: | 内线 转移 ccd 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种内线转移CCD结构,包括硅衬底(1),所述硅衬底(1)上邻近设置有转移区(A)和光敏区(B),其特征在于:所述转移区(A)范围内的硅衬底(1)表面上设置有多晶硅转移栅(2),多晶硅转移栅(2)表面覆盖有遮光层(3),遮光层(3)表面淀积有回流层(4),所述回流层(4)将光敏区(B)覆盖;所述遮光层(3)采用难熔金属或难熔金属合金制作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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