[发明专利]一种新型薄膜电容用金属化薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201510176105.7 申请日: 2015-04-15
公开(公告)号: CN104867674A 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 黄国兴;万志 申请(专利权)人: 赫得纳米科技(昆山)有限公司
主分类号: H01G4/33 分类号: H01G4/33;H01G4/015
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215316 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种新型薄膜电容用金属化薄膜的制备方法,包括如下步骤:(1)在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,将其分切为薄膜电容所需的薄膜带,并绕卷为薄膜卷;(2)将需要做喷金端面镀膜的薄膜卷放置在载具上进入真空腔室,并对真空腔室进行抽真空;(3)对真空腔室内通入稀有气体,将载有薄膜卷的载具匀速通过阴极体,并同时对阴极体施加高压直流电,在阴极体附近形成等离子区,区域中的正离子被阴极体靶材负极所吸引,并撞击其表面,靶材原子飞溅出原靶材本体,在阴极体下方匀速移动的薄膜卷的喷金端面沉积形成金属镀层,从而形成了金属化镀膜。
搜索关键词: 一种 新型 薄膜 电容 金属化 制备 方法
【主权项】:
一种新型薄膜电容用金属化薄膜的制备方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)在绝缘体薄膜表面蒸镀一层金属薄膜,将其分切为薄膜电容所需的薄膜带,并绕卷为薄膜卷;(2)将需要做喷金端面镀膜的薄膜卷放置在载具上进入真空腔室,并对真空腔室进行抽真空;(3)对真空腔室内通入稀有气体,将载有薄膜卷的载具匀速通过阴极体,并同时对阴极体施加高压直流电,在阴极体附近形成等离子区,区域中的正离子被阴极体靶材负极所吸引,并撞击其表面,靶材原子飞溅出原靶材本体,在阴极体下方匀速移动的薄膜卷的喷金端面沉积形成金属镀层,从而形成了金属化镀膜。
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