[发明专利]内建自测试电路有效
| 申请号： | 201510189284.8 | 申请日： | 2015-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN104751896B | 公开（公告）日： | 2017-10-27 |
| 发明（设计）人： | 李鸣 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种内建自测试电路，将存储器内建自测试电路通过数字模拟输入输出单元将测试输入数据TDI、测试输出数据TDO以及模拟信号VPP合并，并内部产生测试触发信号STROBE、数字模拟切换信号ANA，当需要对待测芯片进行电压供电输出电压电流时，可以通过数据产生电路产生数字模拟切换信号改变所述数字模拟输入输出单元的状态，从而进行模拟数据的传输。本发明仅需2个引脚，即可完成测试，提高了测试效率，节省了测试费用。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种内建自测试电路，用于对待测存储器进行测试，其特征在于，所述电路包括：命令解析电路、数据产生电路及数字模拟输入输出单元，所述命令解析电路一输入端自所述数字模拟输入输出单元输入测试输入数据，第一引脚接测试时钟输入至所述命令解析电路的另一输入端及所述数据产生电路中，所述数据产生电路输出测试输出数据、方向控制信号和模数转换数据至所述数字模拟输入输出单元，所述方向控制信号对输入输出进行方向选择，所述模数转换数据对所述数字模拟输入输出单元的模数转换进行选择，所述数字模拟输入输出单元与所述待测存储器相连，并通过第二引脚进行数字或模拟数据的输入输出。
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