[发明专利]一种光电经纬仪的外场星校方法

摘要

本发明涉及一种光电经纬仪的外场星校方法，根据本发明的外场星校方法选择多个处在视场范围内符合星等要求的恒星作为被测恒星，针对每一个被测恒星，分别获取光电经纬仪关于每个被测恒星的方位角理论值、高低角理论值和方位角观测值、高低角观测值，确定每个被测恒星的方位角理论值、高低角理论值、方位角观测值以及高低角观测值与光电经纬仪各单项差的方程组；根据获取的多个被测恒星的关系方程组，采用最小二乘法解算光电经纬仪的单项误差。根据本发明的外场星校方法，能够准确结算出光电经纬仪的单项误差，提高光电经纬仪外场星校的准确性。

主权项

一种光电经纬仪的外场星校方法，所述外场星校方法包括：根据光电经纬仪的探测器性能，确定所述探测器能够探测的最低星等，选择亮度高于最低星等且符合方位角限制和高低角限制的多个恒星作为被测恒星；针对每一个被测恒星，获取所述被测恒星拍摄时刻的方位角理论值和高低角理论值；获取所述被测恒星在所述拍摄时刻的视位置；调整所述光电经纬仪的指向，使所述被测恒星成像于所述光电经纬仪的视轴上；获取所述被测恒星的方位角码盘读数值、高低角码盘读数值，以及方位角脱靶量、高低角脱靶量，确定所述被测恒星的方位角观测值、高低角观测值；获取所述光电经纬仪的单项误差与所述被测恒星的上述参数之间的关系方程组；根据获取的所述多个恒星的所述关系方程组，采用最小二乘法解算所述光电经纬仪的单项误差。