[发明专利]一种基于微透镜阵列的火焰光场探测泛尺度分析方法在审

专利信息
申请号: 201510194407.7 申请日: 2015-04-22
公开(公告)号: CN104819774A 公开(公告)日: 2015-08-05
发明(设计)人: 谈和平;袁远;齐宏;易红亮;刘彬;帅永;李赛;董士奎 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 四川君士达律师事务所 51216 代理人: 芶忠义
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明提供一种基于微透镜阵列的火焰光场探测泛尺度分析方法,包括:高温弥散介质光辐射建模、高温弥散介质辐射特性计算、基于蒙特卡洛算法的光线追踪算法、物像重聚焦算法等步骤。通过模拟不同波长的光线从介质内部发射并经由介质的吸收、散射衰减、介质发射和散射增强等过程,对高温火焰的微透镜光场成像进行仿真计算。通过本发明的仿真计算,可实现对高温火焰的温度场重建,并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
搜索关键词: 一种 基于 透镜 阵列 火焰 探测 尺度 分析 方法
【主权项】:
一种基于微透镜阵列的火焰光场探测泛尺度分析方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)建立高温弥散介质光辐射物理模型,赋予该物理模型尺度、物性参数;(2)建立具有微透镜阵列的光场相机模型;(3)计算高温弥散介质中气体、粒子光谱辐射特性参数,并将所述特性参数赋值给所述物理模型;(4)利用蒙特卡洛算法进行发射光线模拟;(5)计算获得光场相机CCD相面能量分布图;(6)根据所述光场相机CCD相面能量分布图计算不同微透镜所成高温弥散介质图像。
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