[发明专利]一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法在审
| 申请号： | 201510195472.1 | 申请日： | 2015-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN104809193A | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 李娜;李鹏;刘改云;周金柱;宋立伟;王从思 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F17/30 | 分类号： | G06F17/30 |
| 代理公司： | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 | 代理人： | 郭官厚 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法，其整体思路是：首先测量反射面天线反射面板的表面误差，得到表面误差的测试数据，然后根据表面误差的实测数据建立表面误差分形模型，接下来根据分形模型计算表面误差的源项与谱振幅，再根据源项与谱振幅计算得到表面误差的反演模型，最后实现反射面天线表面误差的准确描述。本发明的有益之处在于：根据天线表面的实测数据建立表面误差初始分形模型，确保了反演模型数据来源的准确性；反演过程中根据初始模型计算面板的源项与谱振幅，通过源项和谱振幅得到表面误差的反演模型，确保了反演过程的准确性，为提高反射面面板表面误差描述的精度与效率奠定了基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电磁 散射 理论 反射 天线 表面 误差 反演 方法 | ||
【主权项】：
一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法，其特征在于，包括以下步骤：Step1、测量反射面天线反射面板表面误差，得到表面误差的实测数据；Step2、根据表面误差的实测数据，建立表面误差分形模型；Step3、根据表面误差分形模型，计算源项；Step4、根据表面误差分形模型，计算谱振幅；Step5、根据表面的源项与谱振幅，计算表面误差反演模型；Step6、对表面误差反演模型的准确性进行检验，如果误差值在精度要求范围内，则建模结束；如果不符合误差精度指标，则重复Step2至Step5，直至误差值满足精度要求为止。
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