[发明专利]一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法有效

专利信息
申请号: 201510196966.1 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN104914307B 公开(公告)日: 2017-09-12
发明(设计)人: 梁杰 申请(专利权)人: 深圳市鼎阳科技有限公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 代理人: 郭燕,彭愿洁
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法,频谱仪包括信号输入模块、控制处理模块、信号测量模块和显示模块。在频谱测量过程中,信号输入模块获取输入信号;控制处理模块根据预设的测试窗口数量或者用户设置的测试窗口数量,在显示模块上分割出多个测试窗口,并根据用户的设置,保存用户对每一个测试窗口进行的参数设置以及测试频点或者频段的设置;信号测量模块对每一个测试窗口所对应的频点或者频段进行频谱测量;显示模块显示每一个测试窗口所对应的测量结果。用户可以针对同一信号中不同频点或者不同信号的状况,分割出多个测试窗口并对其设置不同的参数,可以节省频谱测量的时间,避免现有技术进行参数切换的繁琐操作。
搜索关键词: 一种 频谱仪 及其 参数 并行 频谱 测量方法
【主权项】:
一种多参数并行扫频的频谱测量方法,其特征在于,包括:分割窗口:启动分割测试窗口功能;根据预设的测试窗口数量,在屏幕上分割出多个测试窗口;参数设置:依次选中所述多个测试窗口的一个并对其进行参数设置;对被选中的测试窗口进行测试频点或者频段的设置;信号测量:在每一个测试窗口上对其对应的频点或者频段进行频谱测量;结果显示:在屏幕上显示每一个测试窗口所对应的测量结果。
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