[发明专利]一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法在审

专利信息
申请号: 201510197011.8 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN105115441A 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 孟凡武;贺亚洲;徐春广;刘方芳;郝娟;刘帅 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 温子云;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法,本发明利用传感器对回转体进行扫描,并等间隔均匀采样;利用采样数据,在2n+1曲率计算方法中对得到的回转体各个采样点的曲率进行计算,得到回转体各个采样点变形后的曲率,将近似变形后的曲率值大于设定阀值的点作为回转体的特征点,提取特征点并进行分段,得到不同的直线段或曲线段,实现对沿轴线的径向方向突变比较密集、台阶、沟槽较多的回转体零件轮廓进行特征点的提取和分段。
搜索关键词: 一种 回转 零件 特征 提取 自动 分段 方法
【主权项】:
一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法,其特征在于,具体步骤如下:步骤一、连续扫描回转体形廓,并进行间隔为Δx的等间隔均匀采样,实时获得采样点数据;步骤二、根据步骤一中得到采样点数据,在2n+1曲率计算方法中利用式(7)对得到的回转体各个采样点的曲率进行变形,得到回转体各个采样点变形后的曲率:<mrow><msub><mi>k</mi><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><msub><mover><mi>y</mi><mrow><mo>&CenterDot;</mo><mo>&CenterDot;</mo></mrow></mover><mi>i</mi></msub><mrow><msubsup><mover><mi>x</mi><mo>&CenterDot;</mo></mover><mi>i</mi><mn>2</mn></msubsup><mo>-</mo><msubsup><mover><mi>y</mi><mo>&CenterDot;</mo></mover><mi>i</mi><mn>2</mn></msubsup></mrow></mfrac><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mn>7</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>其中,<mrow><msub><mover><mi>x</mi><mo>&CenterDot;</mo></mover><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mi>i</mi><mo>+</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>-</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mover><mi>y</mi><mo>&CenterDot;</mo></mover><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>i</mi><mo>+</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>-</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mover><mi>y</mi><mrow><mo>&CenterDot;</mo><mo>&CenterDot;</mo></mrow></mover><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>i</mi><mo>+</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>+</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>-</mo><mn>2</mn><msub><mi>y</mi><mi>i</mi></msub><mo>;</mo></mrow>i=1,2,……N,N为采样点数,xi为采样点i对应的轴向坐标值,yi为采样点i对应的径向坐标值;ki为采样点i变形后的曲率;n取正整数;步骤三、分析由步骤二得到的变形后的曲率,判断回转体廓形数据点中的角点,提取回转体的特征点;步骤四、通过步骤三得到的特征点,将回转体逐段分割,得到不同的直线段或曲线段。
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