[发明专利]一种低本底α、β活度分析仪在审
| 申请号： | 201510199581.0 | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN104820230A | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 安然;陈祥磊;代传波;李清华;郭晓彬;徐卫锋;任才;颜彬 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 |
| 主分类号： | G01T1/167 | 分类号： | G01T1/167;G01T1/24;G01T1/203 |
| 代理公司： | 武汉天力专利事务所 42208 | 代理人： | 吴晓颖 |
| 地址： | 430205 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及核辐射探测技术领域，提供一种低本底α、β活度分析仪，包括屏蔽铅室、由PIPS半导体探测器与塑料闪烁体构成的反符合探测器、信号处理装置，所述塑料闪烁体底部为井型结构，所述塑料闪烁体与光电倍增管通过塑料闪烁体侧边的开孔端窗面进行耦合，塑料闪烁体与光电倍增管外部用不锈钢外壳包覆，所述不锈钢外壳底部为与塑料闪烁体一致的井型结构，井口中心开有一螺纹孔，PIPS半导体探测器通过其尾部的螺纹旋入不锈钢外壳的螺纹孔中，PIPS半导体探测器的信号线通过螺纹孔引出连接到前置放大电路上，前置放大电路输入输出电源线通过不锈钢外壳的穿孔引出，接入信号处理装置。本发明测量精度高、运行稳定、维护简易、体积小。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 本底 分析 | ||
【主权项】：
一种低本底α、β活度分析仪，其特征在于：包括屏蔽铅室、由PIPS半导体探测器与塑料闪烁体构成的反符合探测器、信号处理装置，所述塑料闪烁体底部为井型结构，所述塑料闪烁体与光电倍增管通过塑料闪烁体侧边的开孔端窗面进行耦合，塑料闪烁体与光电倍增管外部用不锈钢外壳包覆，所述不锈钢外壳底部为与塑料闪烁体一致的井型结构，井口中心开有一螺纹孔，PIPS半导体探测器通过其尾部的螺纹旋入不锈钢外壳的螺纹孔中，PIPS半导体探测器的信号线通过螺纹孔引出连接到前置放大电路上，前置放大电路输入输出电源线通过不锈钢外壳的穿孔引出，接入信号处理装置。
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