[发明专利]一种GaN基发光二极管外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510209418.8 申请日: 2015-04-29
公开(公告)号: CN104810451B 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 王群;郭炳磊;葛永晖;董彬忠;李鹏;王江波 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/20 分类号: H01L33/20;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 代理人: 徐立
地址: 215600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种GaN基发光二极管外延片及其制备方法,属于半导体发光二极管领域。该方法包括在衬底上依次生长缓冲层、n型GaN层、应力调控层、多量子阱层、p型GaN层、以及p型欧姆接触层,该应力调控层为多周期结构,生长多周期结构的每个周期包括以第一生长温度生长一层应力调控InGaN子层,在应力调控InGaN子层生长结束后,在第二生长温度下向反应腔内通入氢气,对应力调控InGaN子层的表面进行刻蚀处理,第二生长温度与第一生长温度不同。本发明通过对应力调控InGaN子层进行上述处理,能在应力调控InGaN子层与应力调控GaN子层之间形成一个平整的接触面,防止缺陷继续延伸。
搜索关键词: gan 发光二极管 外延 制备 方法
【主权项】:
一种GaN基发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,所述方法包括:在衬底上依次生长低温缓冲层、重结晶成核层、变速缓冲恢复层、u型GaN层、n型GaN层、应力调控层、多量子阱层、低温p型GaN层、电子阻挡层、高温p型GaN层、以及p型欧姆接触层,所述多量子阱层的In掺杂量高于所述应力调控层的In掺杂量,所述应力调控层为多周期结构,生长所述多周期结构的每个周期包括:以第一生长温度生长一层应力调控InGaN子层;在所述应力调控InGaN子层生长结束后,在第二生长温度下向反应腔内通入氢气,对所述应力调控InGaN子层的表面进行刻蚀处理,所述第二生长温度与所述第一生长温度不同;在所述刻蚀处理结束后,以所述第一生长温度在所述应力调控InGaN子层上生长一层应力调控GaN子层。
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