[发明专利]TFT基板的制作方法及其结构有效
申请号: | 201510209776.9 | 申请日: | 2015-04-28 |
公开(公告)号: | CN104766859B | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 孙博 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/82 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法及其结构。该TFT基板的制作方法通过在第一道干蚀刻制程中将非晶硅层(5)位于非TFT区域的部分保留一定的厚度,在第二道干蚀刻制程中形成背沟道(51)的同时,蚀刻掉在非TFT区域保留下来的非晶硅层(5),从而防止栅极绝缘层(4)在第二道干蚀刻制程中受到损伤,提高了TFT基板的品质,减少了品质问题发生的风险,并且由于减少了第一道干蚀刻制程的蚀刻量,从而减少了干蚀刻制程时间,减短了生产周期,提高了工厂产能。本发明提供的一种TFT基板结构,其结构简单,栅极绝缘层完整无损伤,可提高液晶显示器的显示品质。 | ||
搜索关键词: | tft 制作方法 及其 结构 | ||
【主权项】:
一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供一基板(1),所述基板(1)上设有TFT区域与非TFT区域,在所述基板(1)上沉积第一金属层,并通过一道光刻制程图案化该第一金属层,形成位于TFT区域中部的栅极(3);步骤2、在所述栅极(3)、及基板(1)上依次沉积栅极绝缘层(4)、非晶硅层(5)、N型重掺杂非晶硅层(6)、及第二金属层(7);步骤3、在所述第二金属层(7)上涂布一光阻层,并通过一道半色调光罩制程对该光阻层进行曝光、显影,得到对应TFT区域覆盖于第二金属层(7)上的蚀刻阻挡层(8);所述蚀刻阻挡层(8)包括薄层区域(81)、及分布于薄层区域(81)两侧的厚层区域(82),所述薄层区域(81)位于欲形成TFT背沟道的位置;步骤4、以所述蚀刻阻挡层(8)为遮挡,采用第一道湿蚀刻制程对所述第二金属层(7)进行蚀刻,保留该第二金属层(7)位于TFT区域的部分;步骤5、采用第一道干蚀刻制程对非晶硅层(5)、N型重掺杂非晶硅层(6)、及蚀刻阻挡层(8)进行蚀刻,使得所述N型重掺杂非晶硅层(6)位于非TFT区域的部分被完全蚀刻掉,而所述非晶硅层(5)位于非TFT区域的部分未被完全蚀刻掉,从而保留一定的厚度,同时使得所述蚀刻阻挡层(8)的薄层区域(81)被完全蚀刻掉,暴露出部分第二金属层(7);步骤6、以所述蚀刻阻挡层(8)的厚层区域(82)为遮挡,采用第二道湿蚀刻制程对第二金属层(7)进行蚀刻,去除第二金属层(7)被暴露出来的部分,形成源/漏极(71);步骤7、以所述蚀刻阻挡层(8)的厚层区域(82)、及源/漏极(71)为遮挡,采用第二道干蚀刻制程对所述非晶硅层(5)与N型重掺杂非晶硅层(6)进行蚀刻,去除掉所述N型重掺杂非晶硅层(6)未被所述源/漏极(71)遮挡的部分,并降低所述非晶硅层(5)未被所述源/漏极(71)遮挡的部分的厚度,形成背沟道区(51);在该第二道干蚀刻制程中,所述非晶硅层(5)位于非TFT区域的部分被完全蚀刻掉;步骤8、去除蚀刻阻挡层(8)的厚层区域(82),得到一TFT基板。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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