[发明专利]一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法有效
| 申请号： | 201510210149.7 | 申请日： | 2015-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN104849687B | 公开（公告）日： | 2017-11-21 |
| 发明（设计）人： | 郭敏;赵秀才;王尊峰;关彬 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法，包括以下步骤根据具体测试应用状态，确定校准和测试所包含的全部测试通道及其各基本组成单元，并以此进行相应多维条件映射散射参数的校准数据配置；根据具体测试应用配置信息，控制系统配置各测试仪器设备进行自校准；根据具体测试应用要求，当校准数据配置全部完成时，进行微波自动测试系统的测试应用，并根据校准数据实时进行误差修正，以获得测试准确度较高的测试结果。本发明有效解决自动测试过程中由于测试通道复杂以及非常规要求等原因，导致通用测试仪器自身校准测试性能受限所造成测试准确度下降甚至测试失效的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散射 参数 级联 微波 自动 测试 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法，其特征在于，基于可视化图形界面向导式人机交互操控模式，包括以下步骤：步骤(1)：根据微波自动测试系统的具体测试应用状态，确定校准和测试所包含的全部测试通道及其各基本组成单元，并以此进行相应多维条件映射散射参数的校准数据配置；步骤(2)：根据微波自动测试系统的具体测试应用配置信息，控制系统配置各测试仪器设备进行自校准；步骤(3)：根据微波自动测试系统的具体测试应用配置信息，对于已有多维条件映射散射参数校准数据的各基本组成单元进行校准数据的调用与配置；步骤(4)：根据微波自动测试系统的具体测试应用配置信息，对没有多维条件映射散射参数的校准数据的系统各测试通道基本组成单元，提示执行多维条件映射的散射参数测试校准及校准数据的提取与存储，直至测试应用所包含的全部测试通道及其各基本组成单元的校准数据配置全部完成；步骤(5)：根据微波自动测试系统的具体测试应用要求，当校准数据配置全部完成时，进行微波自动测试系统的测试应用，并根据校准数据实时进行误差修正，以获得测试准确度较高的测试结果。
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