[发明专利]一种测量弱光纤光栅反射率的方法

摘要

本发明涉及一种测量弱光纤光栅反射率的方法，属于光谱测量技术领域。该方法具体包括以下步骤将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；再将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；然后保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；最后利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率。本发明提供的一种测量弱光纤光栅反射率的方法，通过获取双反射光谱来计算测量弱光纤光栅反射率，消除了光纤端面及光纤接头连接对测量的影响，并且极大地减小了光源功率抖动的问题，能够满足精确测量弱光纤光栅反射率的要求。

主权项

一种测量弱光纤光栅反射率的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：S1：将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；S2：将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；所述介质1的折射率为已知参数；S3：保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；所述介质2的折射率为已知参数；S4：利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率；S4中通过以下公式计算被测弱光纤光栅的反射率，其中，Rs1为UPC型光纤接头的光纤端面置于介质1中的界面反射率，Rs2为UPC型光纤接头的光纤端面置于介质2中的界面反射率；RF为被测光纤光栅反射率；ΔP(dBm)为两个反射光谱的峰值差；所述被测光纤光栅的反射率、UPC型光纤接头置于介质1和介质2中的界面反射率均大于10‑4；所述S1中的低反射率光纤光栅反射率测试系统包括APC型光纤接头、UPC型光纤接头、1X2分路器、宽带光源与光谱仪、以及被测光纤光栅；所述被测光纤光栅的一端熔接APC型光纤接头，另一端熔接UPC型光纤接头；所述APC型光纤接头与1X2分路器的一端；所述1X2分路器的另外两端分别与宽带光源与光谱仪相连。