[发明专利]一种栅漏电容缓变的超结功率器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201510217569.8 申请日: 2015-04-30
公开(公告)号: CN104952928A 公开(公告)日: 2015-09-30
发明(设计)人: 刘磊;袁愿林;王鹏飞;刘伟;龚轶 申请(专利权)人: 苏州东微半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423;H01L21/28;H01L29/66
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 吴树山
地址: 215021 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于半导体功率器件技术领域,特别是涉及一种栅漏电容缓变的超结功率器件及其制造方法。本发明提出的一种栅漏电容缓变的超结功率器件的体区具有两种或两种以上不相等的宽度,使得相邻的体区之间具有两种或两种以上不相等的间距;本发明提出的一种栅漏电容缓变的超结功率器件还采用分栅结构,与具有不相等间距的体区结构结合,能够把超结功率器件在开启或关断时的栅漏电容突变分摊到多个电压节点,从而能够降低由栅漏电容突变引起的电磁干扰;本发明提出的一种栅漏电容缓变的超结功率器件在使用中,能够方便地在器件的芯片内部集成栅极电阻,进一步抑制栅极电压震荡和降低电磁干扰。
搜索关键词: 一种 漏电 容缓变 功率 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种栅漏电容缓变的超结功率器件,包括:在半导体衬底的底部设有第一掺杂类型的漏区,该漏区的上部设有第一掺杂类型的衬底外延层;所述衬底外延层的内部设有凹陷在该衬底外延层内部的用于与衬底外延层杂质形成电荷平衡的多个相互平行的第二掺杂类型的柱状掺杂区,该柱状掺杂区的宽度相等,且相邻的柱状掺杂区之间的间距相等;所述柱状掺杂区的顶部分别设有第二掺杂类型的体区,该体区超出相对应的柱状掺杂区两侧并延伸至所述衬底外延层的内部;其特征在于:所述体区设有两种或两种以上不相等的宽度;所述体区内部的两侧分别设有第一掺杂类型的源区,该源区与相邻的衬底外延层之间的体区层构成器件的沟道区;所述沟道区上部设有栅介质层和栅极,所述栅极之间由绝缘介质层隔离,该绝缘介质层覆盖所述栅极、衬底外延层和体区;所述绝缘介质层内部设有接触孔,该接触孔内填充有金属层,该金属层与所述体区和源区形成欧姆接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州东微半导体有限公司,未经苏州东微半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510217569.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top