[发明专利]光学投影断层成像的检测方法有效
| 申请号： | 201510219236.9 | 申请日： | 2015-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN104865195B | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 田捷;方梦捷;董迪;惠辉;杨鑫;徐敏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23 |
| 代理公司： | 北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙)11482 | 代理人： | 宋宝库 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供的光学投影断层成像的检测方法，包括通过光学投影断层成像系统采集第一图像数据，所述第一图像数据包括第一偏振条件图像数据、第二偏振条件图像数据和第一样本透射图像数据；将所述第一样本透射图像数据进行处理得到透射三维数据；将所述第一偏振条件图像数据和第二偏振条件图像数据进行处理得到偏振条件三维预数据和双折射组织区域图；所述双折射组织区域图对所述偏振条件三维预数据进行反向投影得到偏振条件三维数据；将所述透射三维数据、所述双折射组织区域图和所述偏振条件三维数据进行分析。本发明可以有效地检测在光学投影断层成像系统中的双折射组织。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 投影 断层 成像 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光学投影断层成像的检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过光学投影断层成像系统采集第一图像数据，所述第一图像数据包括第一偏振条件图像数据、第二偏振条件图像数据和第一样本透射图像数据；将所述第一样本透射图像数据进行处理得到透射三维数据；将所述第一偏振条件图像数据和第二偏振条件图像数据进行处理得到偏振条件三维预数据和双折射组织区域图；所述双折射组织区域图对所述偏振条件三维预数据进行反向投影得到偏振条件三维数据；将所述透射三维数据、所述双折射组织区域图和所述偏振条件三维数据进行分析；所述光学投影断层成像系统包括可调起偏器和可调检偏器，所述通过光学投影断层成像系统采集第一图像数据包括：当所述可调起偏器和所述可调检偏器的偏振方向垂直时，获取样本在所述偏振方向的第一偏振条件图像数据；当所述可调起偏器和所述可调检偏器的所述偏振方向垂直且旋转第一角度时，获取所述样本在所述偏振方向的第二偏振条件图像数据，所述第二偏振条件图像数据包括第三偏振条件图像数据和第四偏振条件图像数据。
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