[发明专利]基于核磁共振测井的储层分类方法在审
| 申请号： | 201510226979.9 | 申请日： | 2015-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN104932027A | 公开（公告）日： | 2015-09-23 |
| 发明（设计）人： | 谢然红;刘秘;李长喜 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学(北京) |
| 主分类号： | G01V3/38 | 分类号： | G01V3/38 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧 |
| 地址： | 102249*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于核磁共振测井的储层分类方法，该方法包括：获取待分类储层的待分类深度点的核磁共振横向弛豫时间T2谱；根据所述核磁共振T2谱，计算待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度；采用双峰高斯密度函数拟合所述核磁共振T2谱，得到表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数；根据待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度和表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数，采用聚类分析的方法，对待分类储层的待分类深度点进行分类；根据对待分类储层的待分类深度点的分类结果，确定待分类储层的储层类型。上述技术方案，为储层类别准确的划分和合理开发提供了有力的技术支持。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 核磁共振 测井 分类 方法 | ||
【主权项】：
一种基于核磁共振测井的储层分类方法，其特征在于，包括：获取待分类储层的待分类深度点的核磁共振横向弛豫时间T2谱；根据所述核磁共振T2谱，计算待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度；采用双峰高斯密度函数拟合所述核磁共振T2谱，得到表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数；根据待分类储层的待分类深度点的核磁共振孔隙度和表征待分类储层的待分类深度点的孔隙结构特征的参数，采用聚类分析的方法，对待分类储层的待分类深度点进行分类；根据对待分类储层的待分类深度点的分类结果，确定待分类储层的储层类型。
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