[发明专利]用于功率半导体开关的布置和方法有效

专利信息
申请号: 201510229287.X 申请日: 2015-05-07
公开(公告)号: CN105099417B 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 米卡·尼米;劳里·佩尔托宁 申请(专利权)人: ABB瑞士股份有限公司
主分类号: H03K17/567 分类号: H03K17/567
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 朱胜;李春晖
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开内容描述了一种用于功率半导体开关的布置和方法。在该开关中,第一电极(e)与第二电极(c)之间的第一电流被配置成基于第三电极(g)与第一电极(e)之间的控制电压而被控制。该布置包括:与功率半导体开关串联连接的电感,其中该电感的第一端连接至第一电极(e);用于基于所述第一端的电压来相对于参考电势生成第一测量电压的第一测量装置;用于基于电感的第二端电压来相对于参考电势生成第二测量电压的第二测量装置,用于将第一测量电压与第二测量电压进行比较的比较器;以及用于生成控制电压的驱动装置,该驱动装置被配置成生成该控制电压的第一控制电压水平和第二电压水平。
搜索关键词: 用于 功率 半导体 开关 布置 方法
【主权项】:
1.一种用于功率半导体开关(Q1)的布置,在所述功率半导体开关(Q1)中,第一电极(e)与第二电极(c)之间的第一电流被配置成基于第三电极(g)与所述第一电极(e)之间的控制电压而被控制,其中,所述布置包括:电感(L1),所述电感(L1)与所述功率半导体开关串联连接,其中,所述电感(L1)的第一端连接至所述第一电极(e),第一测量装置(11;34),所述第一测量装置(11;34)用于基于所述电感(L1)的所述第一端的电压来相对于参考电势生成第一测量电压,其中,所述第一测量装置具有第一增益和第一偏置,第二测量装置(12;35),所述第二测量装置(12;35)用于基于所述电感(L1)的第二端电压来相对于参考电势生成第二测量电压,其中,所述第二测量装置具有不同于所述第一增益的第二增益和不同于所述第一偏置的第二偏置,比较器(13;36),所述比较器(13;36)用于将所述第一测量电压与所述第二测量电压进行比较,以及驱动装置(14;31),所述驱动装置(14;31)用于生成所述控制电压,所述驱动装置(14;31)被配置成生成所述控制电压的第一控制电压水平和第二控制电压水平,其中,所述驱动装置(14;31)耦接至所述参考电势,使得在使用期间所述第一控制电压水平和所述第二控制电压水平相对于所述参考电势生成不同的第一电极电压,并且,其中所述第一增益、所述第二增益、所述第一偏置和所述第二偏置被选择成使得,在使用期间,所述控制电压从所述第一控制电压水平和所述第二控制电压水平中的一个水平到所述第一控制电压水平和所述第二控制电压水平中的另一水平的改变引起所述第一测量电压与所述第二测量电压之间的电压差改变其符号,从而使得所述比较器指示所述控制电压的水平何时改变以及所述第一电流的变化率的幅度何时超过设定限制,并且其中,所述第一增益、所述第二增益、所述第一偏置和所述第二偏置被选择成使得:在操作中,流过所述电感(L1)的所述第一电流的变化率的改变引起所述第一测量电压与所述第二测量电压之间的电压差的改变,以及如果在所述功率半导体开关导通和关断时的所述变化率的幅度超过所述设定限制,则所述电压差改变极性并且所述比较器(13;36)改变其状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ABB瑞士股份有限公司,未经ABB瑞士股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510229287.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top