[发明专利]ALD机台腔体的净化方法在审

专利信息
申请号: 201510229506.4 申请日: 2015-05-07
公开(公告)号: CN104911562A 公开(公告)日: 2015-09-16
发明(设计)人: 余先涛;周夏;辛科 申请(专利权)人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 430205 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明的ALD机台腔体的净化方法,包括:提供晶圆,向所述机台腔体内通入六氯乙硅烷,在所述晶圆上进行原子层沉积工艺;对所述机台腔体进行降压升温;向所述机台腔体同时通入氢气和氧气。本发明中,向机台腔体中同时通入氢气和氧气,使得进行原子沉积的过程中未充分反应的六氯乙硅烷与氢气和氧气反应,反应生成物在相对较低的压强下随气流带至机台腔体外,使得六氯乙硅烷不会与空气中的水汽反应生成硅和二氧化硅的副产物留在机台腔体中,影响机台性能,从而避免机台中的残留物对原子层沉积过程的影响。
搜索关键词: ald 机台 净化 方法
【主权项】:
一种ALD机台腔体的净化方法,其特征在于,包括:提供晶圆,向所述机台腔体内通入六氯乙硅烷,在所述晶圆上进行原子层沉积工艺;对所述机台腔体进行降压升温;向所述机台腔体同时通入氢气和氧气。
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