[发明专利]一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置

摘要

一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置，包含电磁探头，伸入微小空间内；主激励线圈，平行设置在金属工件表面上方，位于微小空间的出口周围区域；激励信号单元，与主激励线圈连接，产生激励磁场以在微小空间内表面感应出涡电流，涡电流遇到缺陷后流动方向变化，产生与激励磁场相垂直的缺陷感应磁场或线圈阻抗信号，并被电磁探头感应检测到；控制单元，分别与激励信号单元以及电磁探头相连接，控制激励信号单元产生激励信号，并接收处理由电磁探头感应检测到的缺陷感应磁场或线圈阻抗信号，形成微小空间内的缺陷图像和位置形状报告。本发明能够进入普通涡流检测探头难以进入的多种结构狭窄及复杂的空间内部，并进行高精度的缺陷检测。

主权项

一种用于金属结构微小空间内的缺陷无损检测装置，其特征在于，对金属工件（101）表面的微小空间（103）内的缺陷（104）进行检测，获得该缺陷（104）的位置和形状信息；包含：电磁探头（105），其伸入微小空间（103）内部；主激励线圈（102），其平行设置在金属工件（101）的表面上方，且位于微小空间（103）的出口周围区域；激励信号单元（110），其与所述的主激励线圈（102）相连接，用于产生激励信号并加载至主激励线圈（102），该主激励线圈（102）通电后，在其周围产生激励磁场，该激励磁场在微小空间（103）的内表面感应出涡电流，该涡电流遇到微小空间（103）内表面上的缺陷（104）后，流动方向发生变化，在微小空间（103）内的缺陷（104）周围产生与激励磁场方向相垂直的缺陷感应磁场，或通过感应微小空间（103）内的缺陷（104）产生线圈阻抗信号，并被电磁探头（105）感应并检测到；控制单元（111），其分别与所述的激励信号单元（110）以及电磁探头（105）相连接，用于控制激励信号单元（110）产生激励信号，并接收处理由电磁探头（105）感应检测到的缺陷感应磁场，或通过感应缺陷（104）产生的线圈阻抗信号，形成微小空间（103）内的缺陷（104）的图像，以及缺陷（104）的位置形状报告。