[发明专利]航空电子设备抗NSEE能力的检测方法在审
申请号: | 201510239664.8 | 申请日: | 2015-05-12 |
公开(公告)号: | CN105717385A | 公开(公告)日: | 2016-06-29 |
发明(设计)人: | 王群勇;陈冬梅 | 申请(专利权)人: | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨;于东 |
地址: | 100089 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种航空电子设备抗NSEE能力的检测方法,以解决目前尚无航空电子设备抗NSEE能力检测方法来支撑相应的设计工作的问题。该方法包括:获取航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面;根据航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面和任务环境下的大气中子注量率计算各种NSEE故障率;对各种NSEE故障率求和得到航空电子设备总NSEE故障率,通过航空电子设备总NSEE故障率或平均NSEE故障间隔时间判断航空电子设备抗NSEE的能力。本发明针对大气中子单粒子效应引发的各种故障,求出总NSEE故障率,可知航空电子设备抗NSEE的能力,为航空电子设备NSEE危害防控提供针对性的技术支持。 | ||
搜索关键词: | 航空 电子设备 nsee 能力 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种航空电子设备抗NSEE能力的检测方法,其特征在于,包括:获取航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面;根据航空电子设备中发生各种NSEE故障的敏感截面和任务环境下的大气中子注量率计算航空电子设备的各种NSEE故障率;对各种NSEE故障率求和得到航空电子设备总NSEE故障率,按所述航空电子设备总NSEE故障率得到NSEE故障平均间隔时间MTBFNSEE,通过航空电子设备总NSEE故障率或NSEE故障平均间隔时间MTBFNSEE判断航空电子设备抗NSEE的能力。
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