[发明专利]用锑诱导生长n型纳米晶硅量子点薄膜的方法在审
申请号: | 201510240295.4 | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN104810433A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 杨雯;陈小波;杨培志;袁俊宝;段良飞 | 申请(专利权)人: | 云南师范大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650500 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明涉及一种制备n型硅量子点薄膜的方法,具体而言就是利用金属锑(Sb)诱导生长高数密度、高晶化率的、具有n型导电特性的硅量子点薄膜。本发明主要技术方案:首先,利用Ar离子对Si靶、Si3N4(或SiO2或SiC)靶和Sb靶进行磁控共溅射,优化各靶的溅射功率,在单晶硅和石英衬底上交替沉积富硅硅化物和金属Sb多层薄膜;然后,采用快速光热退火设备在氮气气氛中1000 °C退火3分钟,形成镶嵌在非晶Si3N4(或SiO2或SiC)基质中的高数密度、高晶化率的Sb掺杂纳米晶硅量子点薄膜。此类适量Sb掺杂的硅量子点薄膜具有典型的n型导电特性。本发明适用于第三代太阳电池领域。 | ||
搜索关键词: | 诱导 生长 纳米 量子 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
用锑诱导生长n型纳米晶硅量子点薄膜的方法,其特征在于以下过程和步骤:1)选用单晶硅片和石英玻璃片作为衬底,并进行镀膜前预处理;2)以氩气作为溅射气体,采用射频电源和脉冲电源分别对Si靶、Si3N4(或SiO2或SiC)靶和Sb靶进行磁控共溅射,沉积富硅硅化物和金属Sb多层薄膜;3)然后在氮气氛下进行高温退火处理,即得到锑掺杂的硅量子点薄膜。
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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