[发明专利]单粒子效应检测方法和系统有效
| 申请号： | 201510240840.X | 申请日： | 2015-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN104934072B | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;雷志锋;岳龙;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单粒子效应检测方法和系统，所述方法包括读取第一粒子束流辐照下的待测器件的各地址的存储信息，生成第一读信息，并对第一读信息和第一预设数据进行比较，生成第一比信息；若根据所述第一比信息判定所述待测器件内存在单粒子翻转或单粒子硬错误，则读取第二粒子束流辐照后的所述待测器件的各地址的存储信息，生成第二读信息，并对第二读信息和第二预设数据进行比较，生成第二比信息；若根据所述第二比信息判断出所述待测器件内存在单粒子翻转或单粒子硬错误，则判定所述待测器件内的单粒子翻转或单粒子硬错误不是外围电路瞬态脉冲引起的单粒子翻转或单粒子硬错误。实施本发明，可快速、准确地测得单粒子效应与外围电路间关联。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 效应 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种单粒子效应检测方法，其特征在于，包括以下步骤：读取第一粒子束流辐照下的待测器件的各地址的存储信息，生成第一读信息，并对所述第一读信息和第一预设数据进行比较，生成第一比信息，所述待测器件已上电和写入所述第一预设数据；若根据所述第一比信息判定所述待测器件内存在单粒子翻转或单粒子硬错误，则读取第二粒子束流辐照后的所述待测器件的各地址的存储信息，生成第二读信息，并对所述第二读信息和第二预设数据进行比较，生成第二比信息，所述待测器件被第二粒子束流辐照前已断电、上电和写入所述第二预设数据；若根据所述第二比信息判断出所述待测器件内存在单粒子翻转或单粒子硬错误，则判定所述待测器件内的单粒子翻转或单粒子硬错误不是外围电路瞬态脉冲引起的单粒子翻转或单粒子硬错误；其中，若地址能够进行写入修正，则所述待测器件内存在单粒子翻转，若不能进行写入修正，则所述待测器件内存在单粒子硬错误。
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