[发明专利]用于检测显示面板的方法有效

专利信息
申请号: 201510245186.1 申请日: 2015-05-14
公开(公告)号: CN104809970B 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 曹昆;吴仲远 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/3225
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 初媛媛,景军平
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种用于检测显示面板的方法,所述显示面板包括用于驱动电致发光器件的阵列基板,阵列基板包括阵列布置的像素电极以及驱动所述像素电极的像素开关阵列。该方法包括如下步骤S1、向制作完成的阵列基板施加第一驱动信号,监控像素电极上的第一电压;S2、在阵列基板的各个像素电极上形成第二电极;S3、向被形成有第二电极的阵列基板施加第二驱动信号,监控流过第二电极的第二电流;其中像素电极是所述电致发光器件的阴极和阳极中的一个,第二电极是所述电致发光器件的阴极和阳极中的另一个。该检测方法不需要制作有机发光层,使得整个的检测过程的成本得以大大降低。同时,也排除了有机发光层的制作中可能引入的新的缺陷带来的干扰,简化了显示面板的检测过程,降低了检测的复杂性,有助于提高检测效率。
搜索关键词: 用于 检测 显示 面板 方法
【主权项】:
一种用于检测显示面板的方法,所述显示面板包括用于驱动电致发光器件的阵列基板,所述阵列基板包括阵列布置的像素电极以及驱动所述像素电极的像素开关阵列,其特征在于,所述方法包括如下步骤:S1、向制作完成的阵列基板施加第一驱动信号,监控所述像素电极上的第一电压;S2、在所述阵列基板的各个像素电极上形成第二电极;S3、向被形成有所述第二电极的阵列基板施加第二驱动信号,监控流过所述第二电极的第二电流;其中所述像素电极是所述电致发光器件的阴极和阳极中的一个,所述第二电极是所述电致发光器件的阴极和阳极中的另一个。
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