[发明专利]半导体激光器测试系统

摘要

本发明提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的安全可靠。

主权项

一种半导体激光器测试系统，其特征在于，包括：至少一台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源控制线和数据总线；所述至少一台测试仪中的每台测试仪分别与每个待测试的半导体激光器一一对应，用于进行对应半导体激光器预设工作状态参数的测试，其中，所述预设工作状态参数包括输出光功率、工作电压、工作电流、工作温度；所述每台测试仪通过所述数据总线与所述控制主机连接；所述每台测试仪通过所述测试仪电源线与所述测试仪供电电源连接，由所述测试仪供电电源为所述每台测试仪进行供电；所述每个半导体激光器与对应的所述半导体激光器电源控制线连接，所述每台测试仪通过所述半导体激光器电源控制线控制对应半导体激光器电源的通断；每台测试仪包括：处理器、存储器、制冷设备，以及用于测量对应半导体激光器的所述输出功率的功率传感器、用于测量所述对应半导体激光器的所述工作电压的电压传感器、用于测量所述对应半导体激光器的所述工作电流的电流传感器和用于测量所述对应半导体激光器的所述工作温度的温度传感器；所述存储器、所述功率传感器、所述电压传感器、所述电流传感器和所述温度传感器分别与所述处理器连接；所述制冷设备与所述功率传感器连接；所述处理器，用于接收所述控制主机通过所述数据总线发送的测试指令，所述测试指令中包括所述预设工作状态参数；并在接收到所述测试指令后，断开对应测试仪与所述数据总线间的电连接，使所述对应测试仪处于离线工作状态；所述处理器，还用于控制所述功率传感器、所述电压传感器、所述电流传感器和所述温度传感器分别进行所述预设工作状态参数的参数数据采集，并对采集到的参数数据进行处理后，将处理结果存储在所述存储器中；所述制冷设备包括：半导体制冷设备、风冷设备或液体制冷设备中的任一个；当采用所述液体制冷设备时，采用每台测试仪独立液体循环的方式，或者采用所述至少一台测试仪集中液体循环的方式。