[发明专利]晶圆级芯片封装结构有效
申请号: | 201510255996.5 | 申请日: | 2015-05-19 |
公开(公告)号: | CN104992936A | 公开(公告)日: | 2015-10-21 |
发明(设计)人: | 丁万春 | 申请(专利权)人: | 南通富士通微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 孟阿妮;郭栋梁 |
地址: | 226006 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶圆级芯片封装结构,包括金属凸点,所述金属凸点上设有阻挡层,所述阻挡层上设有焊球,所述铜柱的外围设有塑封料,所述阻挡层位于所述塑封层以外,所述阻挡层相对于所述塑封层的上表面凸起设置。本发明在晶圆级芯片封装结构中,增加一层阻挡层,可以有效阻止金属间化合物的不利影响。对于产品的电性能和机械性能有明显提高。 | ||
搜索关键词: | 晶圆级 芯片 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种晶圆级芯片封装结构,包括金属凸点,其特征在于,所述金属凸点上设有阻挡层,所述阻挡层上设有焊球,所述金属凸点的外围设有塑封层,所述阻挡层位于所述塑封层以外,所述阻挡层相对于所述述塑封层的上表面凸起设置。
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