[发明专利]分析装置和校正方法有效
| 申请号： | 201510257968.7 | 申请日： | 2015-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN105092624B | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 水野裕介;青山朋树 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 王玉玲;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分析装置，其在大气气氛中采用荧光X射线进行成分分析时，针对随时间的变化带来的影响进行校正。所述分析装置(100)包括照射部(51)、检测部(53)、环境测定部(8)以及随时间变化量计算部(96)。照射部(51)照射一次X射线。检测部(53)检测通过大气气氛中的二次X射线强度。环境测定部(8)对定义大气气氛的环境参数进行测定。随时间变化量计算部(96)根据第1环境参数、第1二次X射线强度、第2环境参数、第2二次X射线强度，计算第1定时和第2定时之间的、随时间变化的二次X射线强度的变化量。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 装置 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种分析装置，根据从颗粒状物质产生的荧光X射线进行所述颗粒状物质的成分分析，所述分析装置的特征在于，包括：照射部，在大气气氛中，照射用于激发所述颗粒状物质使其产生荧光X射线的一次X射线；检测部，检测通过照射所述一次X射线而产生并通过所述大气气氛中的二次X射线强度；环境测定部，对定义大气气氛的环境参数进行测定；随时间变化量计算部，根据所述环境测定部在第1定时测定的第1环境参数、所述检测部在所述第1定时检测的第1二次X射线强度、所述环境测定部在所述第1定时的规定时间之前的第2定时测定的第2环境参数、和所述检测部在所述第2定时检测的第2二次X射线强度，计算所述第1定时与所述第2定时之间的、随时间变化的二次X射线强度的变化量或变化率；以及用于捕集所述颗粒状物质的捕集过滤器，所述第1二次X射线和所述第2二次X射线中的至少一方是通过对所述捕集过滤器照射所述一次X射线而产生的散射二次X射线。
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