[发明专利]一种X射线荧光光谱仪快速测定腐竹中铝形态的方法在审
| 申请号： | 201510259585.3 | 申请日： | 2015-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN104865285A | 公开（公告）日： | 2015-08-26 |
| 发明（设计）人： | 唐梦奇;田继军 | 申请（专利权）人： | 中华人民共和国防城港出入境检验检疫局 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 深圳市诺正专利商标代理事务所(普通合伙) 44336 | 代理人： | 邹蓝;沈艳尼 |
| 地址： | 538000 广西壮族*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明公开一种X射线荧光光谱仪快速测定腐竹中铝形态的方法。本发明利用X射线荧光光谱仪测定已知铝形态的标准样品中AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值，作为铝形态分析的依据，将测定的腐竹样品中AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值与其比较，确定腐竹样品中铝的形态。本发明操作简单快速、测定准确，能满足大批量出口腐竹快速检测的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 光谱仪 快速 测定 腐竹 形态 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线荧光光谱仪快速测定腐竹中铝形态的方法，其特征包括以下步骤：(1)含铝标准样品的选择及制备选取铝形态是已知的标准样品，将标准样品在玛瑙研钵中研磨成200目以上均匀粉末，取适量粉末置入压片机模具内，压制成测试片，放入干燥器中保存待测；(2)测量条件的确定选取合适的准直器、探测器及分光晶体，确定仪器测量的激发电压和电流、扫描类型及扫描范围；(3)标准样品AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值的测定按确定的测量条件测定含不同铝形态的标准样品AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值，记录保存作为铝形态分析的依据；(4)腐竹样品铝形态的测定将腐竹样品按步骤（1）制备成测试片，按步骤（3）测定AlKα二级衍射线谱峰位置2θ值，将腐竹样品2θ值与步骤（3）测定的各标准样品2θ值比较，与哪种标准样品2θ值相同，则腐竹样品中铝形态与该标准样品中铝形态一样。
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