[发明专利]激光水平仪调试系统、调试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510278599.X 申请日: 2015-05-27
公开(公告)号: CN105004352A 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 薛凯 申请(专利权)人: 上海风怒电子科技有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200333 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提出一种激光水平仪调试系统、调试装置及方法,其激光水平仪调试系统,包括至少一调试装置、至少一传感器以及控制器,调试装置用于通过改变激光管和柱面镜的相对位置及整体位置,来调整待调试激光线的曲度、平移位置以及以特定基点进行旋转的角度,以将待调试激光线调试到基准位置和基准形状,传感器用于监测待调试激光线的位置和形状,控制器用于接收传感器发送来的测量数据,并对测量数据进行处理,以控制调试装置将待调试激光线调试到基准位置和基准形状,本发明可以将激光水平仪的摆体部分的调试完全通过自动化控制来实现,可以大大缩减人力成本,提高调试效率,提高激光水平仪的产量和品质,降低厂家承担的风险。
搜索关键词: 激光 水平仪 调试 系统 装置 方法
【主权项】:
一种激光水平仪调试系统,用于自动化地对激光管透过柱面镜形成的待调试激光线进行调试,其特征在于,包括:至少一调试装置,用于通过改变该激光管和该柱面镜的相对位置及整体位置,来调整待调试激光线的曲度、平移位置以及以特定基点进行旋转的角度,以将待调试激光线调试到基准位置和基准形状;至少一传感器,用于监测待调试激光线的位置和形状,每个传感器对应监测一个待调试激光线;一控制器,用于接收该传感器发送来的测量数据,并对测量数据进行处理,以控制该调试装置将待调试激光线调试到基准位置和基准形状。
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