[发明专利]Z扫描光学偏振度测量装置和测量方法

摘要

本发明提供一种Z扫描光学偏振度测量装置和测量方法，用于优化设计光学传感器结构及研究方式。其主要特征在于，包括可控的光源单元、薄膜样片测试单元及自由空间偏振仪。其中，可控的光源单元包括激光器、信号发生器和二向色分束器，可产生不同波段的激光；薄膜样片测试单元主要包括非偏振分束器、样片控制平台等；自由空间偏振仪主要包括外置探头和偏振仪，外置探测头的更换与不同波段的光源相对应；利用Z扫描方式测量激光透过薄膜样片的偏振度。此装置设计的元件组合比较灵活，测量方式比较新颖，并且准确性较高。

主权项

一种用于Z扫描的光学偏振度测量装置，其特征在于，其构成包括：光源单元，该光源单元包括第一激光器(2)、第二激光器(5)和信号发生器(1)，通过调节信号发生器(1)的入射激光脉冲参数即脉冲宽度与重复频率，能够产生不同波段的激光；二向色分束器(8)，其能够为从光源单元入射的不同波段的入射光提供不同的分束比；薄膜样片测试单元，该薄膜样片测试单元包括第一非偏振分束器(10)和第二非偏振分束器(16)以及第一样片控制台和第二样片控制台，其中第一非偏振分束器(10)和第二非偏振分束器(16)分别与第一样片控制台和第二样片控制台连接，第一样片控制台和第二样片控制台分别连接到第二聚焦透镜(13)和第一探测头(14)以及第三聚焦透镜(19)和第二探测头(20)，所述第一样片控制台包括第一夹具(11)、第一样片(12)和第一控制平台(15)，第二样片控制台包括第二夹具(17)、第二样片(18)和第二控制平台(21)，来自二向色分束器(8)的光进入第一非偏振分束器而分为两束光，透射的光进入第一样片(12)，经过第二聚焦透镜(13)而到达第一探测头(14)，反射的光进入第二非偏振分束器(16)，第二非偏振分束器(16)将所反射的光分为两束，其中反射的光进入第二样片(18)，经过第三聚焦透镜(19)而到达第二探测头(20)，透射的光经过第四聚焦透镜(22)而到达第三探测头(23)；以及偏振仪，第一探测头(14)、第二探测头(20)和第三探测头(23)分别连接到偏振仪，其中，第一非偏振分束器(10)和第二非偏振分束器(16)将光束一分为二，其中分出来的两束光偏振度相同，其中，由光源单元产生的激光经由主光路到达薄膜样片测试单元，通过所述薄膜样片测试单元的光利用偏振仪并借助计算机而在软件界面上显示以计算出样片对光的偏振度。