[发明专利]一种自动测试纹波的装置和方法有效
申请号: | 201510287879.7 | 申请日: | 2015-05-28 |
公开(公告)号: | CN104865430B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 彭骞;沈亚非;胡磊;徐梦银;肖家波;陈凯 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01R13/00 | 分类号: | G01R13/00 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 黄行军 |
地址: | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种自动测试纹波的装置和方法,包括用于控制采样模块和上层接口模块的工作过程的控制单元模块,用于对待测纹波信号进行电压信号的转换与采集形成可测试的匹配信号的输入电压转换模块,用于对可测试的匹配信号进行采样的采样模块、用于对接收的采样数据进行分解量测显示波形的示波器和用于完成下发、上传数据的上层接口模块。本发明采用自动化的纹波测试,提供了产品在输出电压纹波情况的真实性,其成本低、耗时少,效率高,使用方法简单。 | ||
搜索关键词: | 一种 自动 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种自动测试纹波的装置,其特征在于,包括:控制单元模块(1),用于通过上层接口模块接收上位机下发协议指令、分别向采样模块和上层接口模块发出控制指令,控制采样模块和上层接口模块的工作过程;输入电压转换模块(2),用于对待测纹波信号进行电压信号的转换与采集,形成可测试的匹配信号;采样模块(3),用于对可测试的匹配信号进行采样、将采样的数据输出到示波器进行分解量测;示波器(4),用于根据设置的基准参数对接收的采样数据进行分解量测、显示分解量测后的波形、将波形输出至上层接口控制模块;上层接口模块(5),用于接收上位机发送的基准参数下发至示波器、接收上位机发送的协议指令下发至控制单元模块、接收示波器输出的波形上传至上位机;所述采样模块包括:pk‑pk值采样模块(31),用于对可测试的匹配信号进行pk‑pk值采样,将采样的pk‑pk值数据输出至示波器;周期采样模块(32),用于对可测试的匹配信号进行周期采样,将采样的周期数据输出至示波器;频率采样模块(33),用于对可测试的匹配信号进行频率采样,将采样的频率数据输出至示波器。
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