[发明专利]一种阳极抬高的LIGBT器件及制造方法有效
申请号: | 201510292293.X | 申请日: | 2015-06-01 |
公开(公告)号: | CN104934466B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 成建兵;刘雪松;俞露露;陈旭东;郭厚东;滕国兵 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | H01L29/08 | 分类号: | H01L29/08;H01L29/739;H01L21/331 |
代理公司: | 南京知识律师事务所32207 | 代理人: | 汪旭东 |
地址: | 210023 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种阳极抬高的LIGBT器件及制造方法,属于电子技术领域。该LIGBT器件将常规短路LIGBT的阳极区的N+抬高,并且将阳极N+和阳极P+之间用介质隔离。这种新型的阳极N+抬高的结构一方面在保证器件较少的关断时间的基础上,在导通时可以消除器件的负阻效应,提高器件的性能和稳定性;另外一方面也可以减小器件的横向尺寸面积。 | ||
搜索关键词: | 一种 阳极 抬高 ligbt 器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种阳极抬高的LIGBT器件,其特征在于:在硅衬底(1)上具有埋氧层(2);埋氧层上具有漂移区(3);漂移区一侧为阴极区,一侧为阳极区;在P体区(4)中依次为阴极重掺杂P+区(5)、阴极重掺杂N+区(6);阳极P+区(8)下轻掺杂N缓冲区(7),阳极重掺杂N+区(11)抬高,抬高部分(10)高度为d,阳极P+区(8)和阳极重掺杂N+区(11)之间用二氧化硅介质(9)隔离;器件上部依次为阴极(12)、栅极(13)、第一阳极(15)、第二阳极(16);阴极重掺杂N+区(6)、漂移区(3)之间,P体区(4)的上端为沟道(17);栅极(13)横跨阴极重掺杂N+区(6)、沟道(17)、漂移区(3)上方,中间有较薄的氧化层(14)隔离;所述硅衬底(1)、漂移区(3)、阴极重掺杂N+区(6)、N缓冲区(7)、阳极重掺杂N+区(11)为N型;阴极P体区(4)、阴极重掺杂P+区(5)、阳极重掺杂P+区(8)为P型。
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