[发明专利]多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统、方法及装置有效
| 申请号： | 201510305760.8 | 申请日： | 2015-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN104880171B | 公开（公告）日： | 2017-11-10 |
| 发明（设计）人： | 胡建华;向其军;谭毅成 | 申请（专利权）人： | 深圳市商德先进陶瓷股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统、方法及装置，其中，所述方法包括接收接触式表面粗糙度仪发送的对被测多孔陶瓷进行表面粗糙度检测后得到的测量数据，并输出所述测量数据对应的轮廓曲线图，所述轮廓曲线图上包含基准线以及若干波峰和波谷；通过所述轮廓曲线图获取波峰中的最高波峰对应的峰高值；根据所述峰高值计算被测多孔陶瓷的表面粗糙度。上述方法和系统提高了对多孔陶瓷粗糙度检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 多孔 陶瓷 表面 粗糙 检测 系统 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种多孔陶瓷表面粗糙度的检测系统，其特征在于，所述系统包括：终端以及接触式表面粗糙度仪；其中，所述接触式表面粗糙度仪包括仪器本体和接触式测头；所述仪器本体分别与终端以及接触式测头连接；所述终端，用于向所述仪器本体发送测量指令，接收所述仪器本体返回的测量数据，并输出所述测量数据对应的轮廓曲线图，所述轮廓曲线图上包含：基准线以及若干波峰和波谷；获取从所述轮廓曲线图中包含的波峰中选取的最高波峰，计算所述最高波峰距离所述基准线之间的垂直距离值，所述垂直距离值即为峰高值；根据所述峰高值计算被测多孔陶瓷的表面粗糙度，所述表面粗糙度的计算公式为：Ra＝Rmax/4，其中，Ra为表面粗糙度，Rmax为峰高值；所述仪器本体，用于接收终端发送的测量指令，根据测量指令控制接触式测头紧贴在被测多孔陶瓷的表面；获取接触式测头对被测多孔陶瓷表面进行粗糙度检测时采集到的测量数据，并将测量数据返回至所述终端；所述接触式测头，用于在被测多孔陶瓷表面划过一段预设距离，并采集测量数据。
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