[发明专利]具有凹陷沟道的应变半导体装置以及形成该装置的方法有效
申请号: | 201510307239.8 | 申请日: | 2010-08-10 |
公开(公告)号: | CN105023840B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 郑振辉;冯家馨;蔡瀚霆;蔡明桓;范玮寒;宋学昌;王海艇;吕伟元;罗先庆;陈冠仲 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/3065;H01L21/336;H01L29/78 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 石海霞,张浴月 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种具有应力沟道(strained channel)的半导体装置以及制造该装置的方法。此半导体装置具有形成在沟道凹陷上的栅极。以应力引发材料(stress‑inducing material)填入形成于栅极两侧的第一凹陷及第二凹陷,该应力引发材料扩展进入源极/漏极延伸(source/drain extension)与栅极边缘重叠的区域。在一实施例中,沟道凹陷及/或第一与第二凹陷的侧壁可为沿着{111}刻面。本发明相较于其他已知系统可在沟道区显示较高且较均匀的应力。 | ||
搜索关键词: | 具有 凹陷 沟道 应变 半导体 装置 以及 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种形成半导体装置的方法,包括:在一基板上形成一第一栅极;在该第一栅极两侧的该基板中形成一第一应力引发区及一第二应力引发区;在该第一栅极两侧的该基板中形成源极/漏极延伸;移除该第一栅极;在该基板中的该第一应力引发区及该第二应力引发区之间形成一沟道凹陷,该第一应力引发区及该第二应力引发区扩展进入源极/漏极延伸与该沟道凹陷重叠的一区域;以及在该沟道凹陷上形成一栅极介电材料及一第二栅极,该第一应力引发区及该第二应力引发区的材料未与该栅极介电材料直接接触,且该源极/漏极延伸与该栅极介电材料直接接触;其中该沟道凹陷在{111}刻面具有一侧壁。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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