[发明专利]指纹检测芯片的封装测试装置和方法有效
申请号: | 201510317521.4 | 申请日: | 2015-06-10 |
公开(公告)号: | CN105448858B | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 李振刚;徐坤平;杨云 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;G01R31/265 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种指纹检测芯片的封装测试装置和方法,其中,指纹检测芯片的封装测试装置包括测试板,测试板设置于待测指纹检测芯片之上,其中,测试板接收待测指纹检测芯片的激励信号以使测试板与待测指纹检测芯片中的多个检测单元形成耦合电容,待测指纹检测芯片获取多个耦合电容的电容值,并根据多个耦合电容的电容值对待测指纹检测芯片的封装进行测试。本发明实施例的指纹检测芯片的封装测试装置和方法,通过在待测指纹检测芯片上设置测试板,待测指纹检测芯片获取多个耦合电容的电容值,并根据电容值对待测指纹检测芯片的封装进行测试,可快速有效地测试出待测指纹检测芯片的封装是否合格,提高了良品率。 | ||
搜索关键词: | 指纹 检测 芯片 封装 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种指纹检测芯片的封装测试装置,其特征在于,包括:测试板,所述测试板设置于待测指纹检测芯片之上,其中,所述测试板导电,其中,所述测试板接收所述待测指纹检测芯片的激励信号以使所述测试板与所述待测指纹检测芯片中的多个检测单元形成耦合电容,所述待测指纹检测芯片获取所述多个耦合电容的电容值,并根据所述多个耦合电容的电容值对所述待测指纹检测芯片的封装进行测试。
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