[发明专利]SLD器件可靠性评估方法有效
| 申请号： | 201510330182.3 | 申请日： | 2015-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN104914373B | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 史典阳;李海军;聂国建;任艳;周军连;于迪 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种SLD器件可靠性评估方法，包括获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数，并将管芯的基本失效率和温度系数的乘积转换为管芯的失效参数；获取SLD器件内光纤焊点的耦合失效率，生成光纤焊点的失效参数；获取SLD器件内制冷器的基本失效率，生成制冷器的失效参数；获取SLD器件内热敏电阻的基本失效率和温度系数，并将热敏电阻的基本失效率和温度系数的乘积的2倍转换为热敏电阻的失效参数；将管芯的失效参数、光纤焊点的失效参数、制冷器的失效参数和热敏电阻的失效参数转换为SLD器件的失效参数；根据SLD器件的失效参数进行可靠性评估。实施本发明，可对SLD器件的可靠性进行精确评估。 | ||
| 搜索关键词： | sld 器件 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种SLD器件可靠性评估方法，其特征在于，包括以下步骤：获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数，并将所述管芯的基本失效率和所述管芯的温度系数的乘积转换为所述管芯的失效参数；获取所述SLD器件内光纤焊点的耦合失效率，生成所述光纤焊点的失效参数；获取所述SLD器件内制冷器的基本失效率，生成所述制冷器的失效参数；获取所述SLD器件内热敏电阻的基本失效率和温度系数，并将所述热敏电阻的基本失效率和所述热敏电阻的温度系数的乘积的2倍转换为所述热敏电阻的失效参数；将所述管芯的失效参数、所述光纤焊点的失效参数、所述制冷器的失效参数和所述热敏电阻的失效参数转换为所述SLD器件的失效参数；根据所述SLD器件的失效参数对所述SLD器件的可靠性进行评估。
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