[发明专利]一种用于测量光器件频率响应的装置和方法在审
| 申请号： | 201510345041.9 | 申请日： | 2015-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN104954066A | 公开（公告）日： | 2015-09-30 |
| 发明（设计）人： | 戴一堂;张梓平;徐坤;尹飞飞;李建强 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 钟日红;李心稳 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测量光器件频率响应的装置和方法。该装置包括：激光光源，用于产生连续式激光载波；检测光路，用于对所述激光载波进行调制生成第一光频梳，使第一光频梳通过待测光器件得到检测光梳，以将待测光器件的幅频响应和相频响应记录在检测光梳的梳齿上，使检测光梳变频为基带检测信号；基准光路，用于对所述激光载波进行调制生成第二光频梳，使第二光频梳变频为基带基准信号；采样处理模块，用于根据基带检测信号和基带基准信号进行采样，并计算待测光器件的幅频响应和相频响应。本发明在保证测量精度与带宽的同时保证测量速度，且同时获得待测器件的幅频与相频响应。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 器件 频率响应 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量光器件频率响应的装置，其特征在于，包括：激光光源，用于产生连续式激光载波；检测光路，用于对所述激光载波进行调制生成第一光频梳，使第一光频梳通过待测光器件得到检测光梳，以将待测光器件的幅频响应和相频响应记录在检测光梳的梳齿上，使检测光梳变频为基带检测信号；基准光路，用于对所述激光载波进行调制生成第二光频梳，使第二光频梳变频为基带基准信号；采样处理模块，用于根据基带检测信号和基带基准信号进行采样，并计算待测光器件的幅频响应和相频响应。
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