[发明专利]提取有机发光器件的相关曲线的系统和方法有效
| 申请号： | 201510348819.1 | 申请日： | 2015-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN105225621B | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 戈尔拉玛瑞扎·恰吉 | 申请（专利权）人： | 伊格尼斯创新公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/3225 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定多个基于阵列的半导体器件中的有机发光器件(OLED)的效率劣化的系统，所述基于阵列的半导体器件具有像素的阵列，且所述像素包括OLED。所述系统确定每个所述基于阵列的半导体器件中的所述OLED的电学运行参数的变化与所述OLED的所述效率劣化之间的关系，通过使用所述基于阵列的半导体器件之中的被选定的一者的所确定的关系来确定所述OLED的所述效率劣化，并且补偿所述效率劣化。可以通过使用与每个所述基于阵列的半导体器件相关的测试OLED来确定所述基于阵列的半导体器件中的所述OLED的所述电学运行参数的变化与所述OLED的所述效率劣化之间的所述关系。 | ||
| 搜索关键词： | 提取 有机 发光 器件 相关 曲线 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定多个基于阵列的半导体器件中的有机发光器件(OLED)的效率劣化的方法，所述基于阵列的半导体器件具有像素的阵列，且所述像素包括OLED，所述方法包括：确定每个所述基于阵列的半导体器件中的所述OLED的电学运行参数的变化与所述OLED的所述效率劣化之间的关系；使用所述基于阵列的半导体器件之中的被选定的一者的所确定的关系来确定所述OLED的所述效率劣化；并且补偿所述效率劣化。
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