[发明专利]一种解相位干涉仪测向模糊的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510354215.8 申请日: 2015-06-23
公开(公告)号: CN104991225B 公开(公告)日: 2017-12-22
发明(设计)人: 尤明懿;陆安南 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
主分类号: G01S3/12 分类号: G01S3/12
代理公司: 北京市隆安律师事务所11323 代理人: 权鲜枝,吴昊
地址: 314033 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种解相位干涉仪测向模糊的方法和装置,所述方法包括对每次测量的L条基线的相位差,采用最小相位误差测向算法获得M个相位误差的极大值和每个极大值的对应位置;降序排序M个相位误差的极大值;获取每个极大值的对应位置的相位差的拟合误差,计算拟合误差的均值和方差;根据拟合误差的均值和方差对M个相位误差的极大值进行检验,剔除不符合检验条件的极大值;当满足检验条件的极大值仅为一个,且该极大值为所述最大值时,判定该极大值的对应位置为相位干涉仪该次测量的测向结果,否则判定该次测量无法解模糊。本发明的技术方案能够正确地解相位干涉仪的测向模糊,有效地避免采信错误解测向模糊的结果导致的损失。
搜索关键词: 一种 相位 干涉仪 测向 模糊 方法 装置
【主权项】:
一种解相位干涉仪测向模糊的方法,其特征在于,所述方法包括:对每次测量的L条基线的相位差,采用最小相位误差测向算法获得M个相位误差的极大值以及每个极大值的对应位置其中L和M均为正整数;降序排序所述M个相位误差的极大值;获取每个极大值的对应位置ηm的相位差的拟合误差,计算所述拟合误差的均值和方差;根据所述拟合误差的均值和方差对所述M个相位误差的极大值进行检验,保留符合检验条件的极大值,剔除不符合检验条件的极大值;判断检验后的符合检验条件的极大值,当满足检验条件的极大值仅为一个,且该极大值为最大值时,判定该极大值的对应位置为所述相位干涉仪该次测量的测向结果,否则判定该次测量无法解模糊。
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