[发明专利]一种用于吸收太赫兹波的超薄金属膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201510357232.7 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN105048103A 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 苟君;王军;顾德恩;蒋亚东;黎威志 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01Q17/00 分类号: H01Q17/00
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 杨保刚;晏辉
地址: 611731 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种用于吸收太赫兹波的超薄金属膜的制备方法,通过对表面易氧化的金属薄膜进行氧化形成氧化层,刻蚀去除氧化层,反复进行氧化和刻蚀,最终得到需要厚度的超薄金属膜。该方法可以获得磁控溅射法无法直接制备的超薄金属膜,具有薄膜厚度均匀、可控的特点,且制备工艺简单,与MEMS工艺兼容。该方法制备的超薄金属膜还具有高比表面积、低反射率的特点,用作太赫兹辐射吸收层可有效增强吸收性能和效率。
搜索关键词: 一种 用于 吸收 赫兹 超薄 金属膜 制备 方法
【主权项】:
一种用于吸收太赫兹波的超薄金属膜的制备方法,其特征在于,该方法通过对表面易氧化的金属薄膜进行氧化形成氧化层,刻蚀去除氧化层,反复进行氧化和刻蚀,最终得到需要厚度的超薄金属膜。
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